日本理化学研究所2016年2月17日宣告，在利用X射线相干性（Coherence）的X射线Ptychography光学技术方面，实际检验了高效利用相干性X射线的方法。此次证实，通过运用可凭借局部相干性X射线对试样图像实行重构的算法，与几乎相干性X射线比起，可提升分辨率。

　　X射线Ptychography光学技术通过X射线散射强度图展开振幅完全恢复计算出来，对试样图像实行重构，特点是原理上需要构建X射线波长程度的空间分辨率。但测量时必须用于高强度的相干性X射线，即便用于享有世界最低X射线强度的大型电磁辐射光设施SPring-8来重构具备高分辨率的试样图像，要想要取得X射线散射强度图，也必须很长的时间。

　　此次使用的是混合状态重构算法，该算法将局部相干性X射线的强度产于原作为互不相干的多种模式的相干性X射线的总和。不过，随着相干性变差，模式数量减少，所必须的散射强度图数量也随之减少，因此通过对局部相干性X射线实行聚光来诱导模式数量的减少，同时通过计算出来仿真来要求对于高效利用第一模式的相干性X射线而言为最佳的测量条件。

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